功能：

• 适用于直径为Ø1至Ø75毫米的光束的准直信息；

• 磁性运动学板可轻松更换不同直径的光束；

• 英制与公制螺纹安装孔；

SI系列剪切干涉仪可用于定性判断相干光束是否准直。该设计由一块以45°角安装的楔形光学平晶和一块中间带有刻线参考线的漫射板组成。漫射板用于观察由相干光束以45°角入射至光学平晶法线所形成的干涉条纹。如果光束准直，则产生的条纹图案将与刻线参考线平行。除了能反映光束的准直程度外，这些条纹对球差、彗差和像散也十分敏感。对于SI系列的每一种型号，光学平晶的厚度及其楔形程度均经过精心选择，以使在漫射板上能够观察到4至6条干涉条纹。

底座采用阳极氧化铝制成，带有楔形光学平面的平板通过磁力固定，因此可轻松更换为配备不同楔形光学平面的平板。在楔形光学平面后方，底座上钻有一个通孔，以便透射光束能够畅通无阻地穿过光学平面。剪切干涉仪的底座底部以及两侧各设有一个8-32和一个M4螺纹安装孔（即共6个孔，其中3个为英制，3个为公制）。

对于小光束直径，相应的条纹图案也会较小，这可能导致难以观察。针对这些情况，可选购SIVS配件以替换标准漫射板观察屏，从而增大漫射板上的条纹尺寸。SIVS由一个安装的发散透镜和漫射板组成，适用于1至10毫米范围内的光束直径。