固定频率栅格畸变测试卡

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固定频率栅格畸变测试卡

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商品信息

商品描述

特点：

可选新尺寸；
可计算成像系统的畸变；
本产品的精度通过N.I.S.T认证；

尽管在测量应用方面畸变会带来一定的麻烦，但是您必须清楚事实上关于被测物体的各种信息并没有丢失，仅仅是物体所成的像放错了位置而已。采用本测试卡，您可以很方便的测量出畸变当量和精度。使用斑点（或质心）分析测量软件就可对斑点中心定位。为了扩充图象分析软件应用功能，我们推出了固定频率以及可变频率的测试卡，固定频率的测试卡可应用在3个标准方式选项，每种有不同的斑点尺寸/斑点频率相结合，根据您的视场角或分辨率/精度等要求来选择合适的畸变测试卡。

	玻璃靶上的铬	蛋白石靶上的铬	白色反光迈拉®靶
基材	透明钠钙浮法玻璃	白色蛋白石玻璃	白色反光迈拉®/感光乳剂
基材厚度	1.5毫米	3.2毫米	0.2毫米
公差
点直径	±0.002毫米	±0.002毫米	±0.013毫米
点到点精度	±0.001毫米	±0.001毫米	±0.008毫米
网格角到角精度	±0.004毫米	±0.004毫米	±0.2毫米
表面平整度	4 - 6 λ / 25.4mm 区域	4 - 6 λ / 25.4mm 区域	无
表面质量	40-20	40-20	无
涂层	反射式第一表面铬	反射式第一表面铬
涂层	OD > 3.0，R_abs= 50% ± 5% @ 550nm	OD > 3.0，R_abs= 50% ± 5% @ 550nm	无